Scanning-tunnelmikroskopi: Forskelle mellem versioner
Content deleted Content added
Inc (diskussion | bidrag) m +{{Scanning-sondemikroskopi}} Tag: 2017-kilderedigering |
PHE77 (diskussion | bidrag) m Retter flertydige links til Strøm (link ændret til Elektrisk strøm) med DisamAssist. |
||
Linje 3:
'''Scanning Tunneling Microscope''' ('''STM''') er et instrument, der bruges til at danne billeder af overfladen på et [[metal]] eller en [[halvleder]] med så høj [[opløsning (billede)|opløsningsevne]], at det er muligt at skelne enkelte atomer. STM blev opfundet i årene omkring 1981 ved [[IBM]] i Zürich, og opfinderne [[Gerd Binnig]] og [[Heinrich Rohrer]] modtog [[nobelprisen i fysik]] for opfindelsen i 1986.
Et STM virker ved at bevæge en meget skarp metalspids langs den overflade, der undersøges. Ved at påtrykke en [[spændingsforskel]] mellem spids og overflade, skabes en lille elektrisk [[Elektrisk strøm|strøm]] imellem de to emner. Denne strøm afhænger kraftigt af afstanden mellem spidsen og overfladen, og ved at måle strømmen, kan afstanden bestemmes meget nøjagtigt, helt ned til 0.01 [[nanometer]]. Et STM udnytter den [[Kvantemekanik|kvantemekaniske]] effekt kaldet [[Kvantemekanisk tunnelering|tunnelering]], der tillader de [[elektroner]], der udgør strømmen, at tunnelere mellem spidsen og overfladen, uden at disse er i kontakt med hinanden. For at der skal løbe en tunnelstrøm, skal afstanden mellem overflade og spids være ca. 1 nanometer.
Et STM anvendes ofte i den såkaldte ''constant current mode''. Ved denne målemetode bevæges metalspidsen hen over overfladen, og højden justeres løbende, for at holde strømmen konstant. I mange tilfælde vil justeringen af metalspidshøjden svare til [[topografi]]en af overfladen, men i andre tilfælde er det mere kompliceret. F.eks. afhænger strømmen af [[elektron]]er, udover afstanden mellem metalspidsen og overfladen, også af hvilket materiale overfladen beståer af. Den målte højde for forskellige slags atomer kan således ikke altid sammenlignes direkte.
| |||