Scanning-tunnelmikroskopi: Forskelle mellem versioner

Content deleted Content added
Opstramninger og et ekstra fact. Artiklen mangler kilde.
Tag: 2017-kilderedigering
m Internt link
Tag: 2017-kilderedigering
Linje 1:
[[File:Atomic resolution Au100.JPG|thumb|STM-billede af en [[guld]]-[[Miller index|(100)]]-overflade. Atomerne i overfladen [[Overfladerekonstruktion|rekonstruerer]] sig og danner her et bølgemønster.]]
'''Scanning-tunnelmikroskopi''' ('''STM''') er en metode, der bruges til at danne billeder af overfladen[[overflade]]n på et [[metal]] eller en [[halvleder]] med så høj [[opløsning (billede)|opløsningsevne]], at det er muligt at skelne enkelte atomer. STM blev opfundet i årene omkring [[1981]] ved [[IBM]] i [[Zürich]], og opfinderne [[Gerd Binnig]] og [[Heinrich Rohrer]] modtog [[nobelprisen i fysik]] for opfindelsen i [[1986]].
 
Et STM virker ved at bevæge en meget skarp metalspids langs den overflade, der undersøges. Ved at påføre en [[spændingsforskel]] mellem spids og overflade skabes en lille elektrisk [[Elektrisk strøm|strøm]] imellem de to emner. Denne strøm afhænger kraftigt af afstanden mellem spidsen og overfladen og ved at måle strømmen, kan afstanden bestemmes helt ned til 0,01 [[nanometer]]. Et STM udnytter den [[Kvantemekanik|kvantemekaniske]] effekt kaldet [[Kvantemekanisk tunnelering|tunnelering]], der tillader de [[elektroner]], der udgør strømmen, at tunnelere mellem spidsen og overfladen uden at disse er i kontakt med hinanden. Tunnelstrømmen er målbar så længe afstanden ikke er større end ca. 1 nm.