Scanning-tunnelmikroskopi: Forskelle mellem versioner
Content deleted Content added
Inc (diskussion | bidrag) m Internt link Tag: 2017-kilderedigering |
Inc (diskussion | bidrag) Sætning uden kilde Tag: 2017-kilderedigering |
||
Linje 4:
Et STM virker ved at bevæge en meget skarp metalspids langs den overflade, der undersøges. Ved at påføre en [[spændingsforskel]] mellem spids og overflade skabes en lille elektrisk [[Elektrisk strøm|strøm]] imellem de to emner. Denne strøm afhænger kraftigt af afstanden mellem spidsen og overfladen og ved at måle strømmen, kan afstanden bestemmes helt ned til 0,01 [[nanometer]]. Et STM udnytter den [[Kvantemekanik|kvantemekaniske]] effekt kaldet [[Kvantemekanisk tunnelering|tunnelering]], der tillader de [[elektroner]], der udgør strømmen, at tunnelere mellem spidsen og overfladen uden at disse er i kontakt med hinanden. Tunnelstrømmen er målbar så længe afstanden ikke er større end ca. 1 nm.
Et STM anvendes ofte ved konstant strøm ([[Engelsk (sprog)|engelsk]]: ''constant current mode''), hvor metalspidsen bevæges hen over overfladen, og højden justeres løbende for at holde strømmen konstant. I mange tilfælde vil justeringen af metalspidshøjden svare til [[topografi]]en af overfladen, men i andre tilfælde er det mere kompliceret. F.eks. afhænger strømmen af [[elektron]]er, udover afstanden mellem metalspidsen og overfladen, også af hvilket materiale overfladen beståer af. Den målte højde for forskellige slags atomer kan således ikke altid sammenlignes direkte, hvorfor en målt højde ofte kaldes for en tilsyneladende højde ([[Engelsk (sprog)|engelsk]]: ''apparent height'').
Generelt bliver målinger med STM mere præcise, når de placeres i et [[vakuum]] - ofte et [[ultrahøjt vakuum]] - da overfladen derved kan holdes atomisk ren.
==Manipulation==
| |||