Scanning-tunnelmikroskopi: Forskelle mellem versioner
Content deleted Content added
Inc (diskussion | bidrag) Sætning uden kilde Tag: 2017-kilderedigering |
Inc (diskussion | bidrag) Sat i billedbeskrivelsen i stedet for. Tag: 2017-kilderedigering |
||
Linje 1:
[[File:Atomic resolution Au100.JPG|thumb|STM-billede af en [[guld]]-[[Miller index|(100)]]-overflade. Atomerne i overfladen [[Overfladerekonstruktion|rekonstruerer]] sig og danner her et bølgemønster. For at kunne lave så præcise målinger som muligt er billedet taget ved {{convert|77|K|abbr=on|lk=on}} i [[ultrahøjt vakuum]].]]
'''Scanning-tunnelmikroskopi''' ('''STM''') er en metode, der bruges til at danne billeder af [[overflade]]n på et [[metal]] eller en [[halvleder]] med så høj [[opløsning (billede)|opløsningsevne]], at det er muligt at skelne enkelte atomer. STM blev opfundet i årene omkring [[1981]] ved [[IBM]] i [[Zürich]], og opfinderne [[Gerd Binnig]] og [[Heinrich Rohrer]] modtog [[nobelprisen i fysik]] for opfindelsen i [[1986]].
Linje 5:
Et STM anvendes ofte ved konstant strøm ([[Engelsk (sprog)|engelsk]]: ''constant current mode''), hvor metalspidsen bevæges hen over overfladen, og højden justeres løbende for at holde strømmen konstant. I mange tilfælde vil justeringen af metalspidshøjden svare til [[topografi]]en af overfladen, men i andre tilfælde er det mere kompliceret. F.eks. afhænger strømmen af [[elektron]]er, udover afstanden mellem metalspidsen og overfladen, også af hvilket materiale overfladen beståer af. Den målte højde for forskellige slags atomer kan således ikke altid sammenlignes direkte, hvorfor en målt højde ofte kaldes for en tilsyneladende højde ([[Engelsk (sprog)|engelsk]]: ''apparent height'').
==Manipulation==
| |||