Scanning-tunnelmikroskopi: Forskelle mellem versioner
Content deleted Content added
TXiKiBoT (diskussion | bidrag) m robot Ændrer: cs:Řádkovací tunelový mikroskop |
Broadbot (diskussion | bidrag) m Bot: Erstatter skabelon: Link AA; kosmetiske ændringer |
||
Linje 1:
'''Scanning Tunnel Microscope''', kaldet '''STM''', er et [[mikroskop]], der kan vise overfladen på et metal eller en halvleder med så høj [[opløsning (billede)|opløsningsevne]], at det er muligt, at se de enkelte atomer. STM blev opfundet i 1982 ved IBM i Zürich. Gerd Binnig og Heinrich Rohrer modtog nobelprisen for opfindelsen i 1986.
STM udnytter den [[Kvantemekanik|kvantemekaniske]] effekt kaldet [[Kvantemekanisk tunnelering|tunneleffekten]]. [[elektron|Elektroner]] tunnelerer mellem en meget fin metalspids og overfladen på det materiale, som skal afbildes. Denne strøm af [[elektron
For at der skal løbe en tunnelstrøm, skal afstanden mellem overflade og spids være ca. 1 [[nano]]meter. Da [[Kvantemekanisk tunnelering|tunneleffekten]] også afhænger af hvilket materiale overfladen er lavet af, kan man også bruge det til at probe overflader for forskellige materialer.
== Se også ==
*[[Atomar kraftmikroskop]]
== Eksterne henvisninger ==
*[http://www.nanotek.nu Nanotek.nu - et populærvidenskabeligt website om nanoteknologi og -videnskab, udviklet af Niels Bohr Institutet i samarbejde med Nano-Science Centeret på Københavns Universitet]
*[http://www.innovationlab.net/sw7367.asp Skan denne side for let information om skanning tunnel mikroskop]
{{Link FA|pl}}▼
[[Kategori:Nanoteknologi]]
▲{{Link AA|de}}
▲{{Link FA|pl}}
[[cs:Řádkovací tunelový mikroskop]]
|