Analog-til-digital-konverter: Forskelle mellem versioner

* Den ''parallelle AD-konverter'' sammenligner signalet med 2^{<em>''n</em>''} nummererede prøvespændinger (hvor <em>''n</em>'' er antallet af bit) på <em>''samme tid</em>''. En del af disse sammenligninger (med prøvespændinger mindre end det målte signal) vil vise at målesignalet er størst, mens resten (med prøvespændinger større end målesignalets) vil vise at prøvespændingen af størst. Et [[kombinatorisk kredsløb]] modtager et digitalt signal fra hver sammenligning, og genererer et binært tal svarende til nummeret på den største prøvespænding som viste sig mindre end den målte spænding.

* Den ''serielle AD-konverter'' sammenligner det analoge signal med et antal "prøvespændinger", én efter én. Efter <em>''n</em>'' sammenligninger har den samlet <em>''n</em>'' bit sammen i et indbygget [[skifteregister (digital elektronik)|skifteregister]], som repræsenterer spændingen af det analoge signal. Denne type AD-konverter kan laves med relativt få komponenter, uanset hvor mange bit man ønsker resultatet i, og er derfor tilsvarende billig. Til gengæld er den noget langsommere end den parallelle AD-konverter ovenfor, og hvis det signal der måles på ændrer sig undervejs i en måling, sker der fejl i "oversættelsen". For at imødegå dette problem kan man bruge et såkaldt ''sample-and-hold-kredsløb'' til at fastholde det analoge signal mens der måles.

{{Commonscat-gl|Mixed analog and digital circuits|Blandet analoge og digitale kredsløb}}