Scanning-sondemikroskopi

Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den. Ved at bevæge sonden hen over overfladen, kan et billede dannes.

Et SEM-billede af en sonde, der bruges til piezorespons kraftmikroskopi.

SPM blev opfundet af Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1981 i form af scanning-tunnelmikroskopi, hvor der mellem sonden og overfladen løber en meget svag strøm pga. kvantemekanisk tunnelering.[1]

KildehenvisningerRediger

  1. ^ Salapaka, Srinivasa; Salapaka, Murti (2008). "Scanning Probe Microscopy". IEEE Control Systems Magazine. 28 (2): 65-83. ISSN 0272-1708. doi:10.1109/MCS.2007.914688. 
 Stub
Denne artikel om fysik er kun påbegyndt. Hvis du ved mere om emnet, kan du hjælpe Wikipedia ved at udvide den.